在高速数字传输中，连接器对信号质量至关重要。随着PCIe Gen5/Gen6、USB4和DisplayPort等接口的数据速率不断提升，连接器的性能对信号完整性（SI）和系统合规性产生了重大影响。本文介绍了连接器信号完整性测试的基础知识、关键评估方法以及高速连接器测试中的注意事项。

现今的计算环境对于企业级设备提升其复杂程度的要求，达到了前所未有的高度。随着数据传输率的提高，受标准物料所限制的性能进一步加剧了复杂性的问题。 更快的数据传输率需要更快的上升时间，这亦导致更多高速讯号的损耗。虽然这个缺陷可以使用高性能的层压材料来进行弥补，但成效并不显著且成本大增。新款的处理器及主板会处理更多的输入/输出（I/O），使PCB的布线和布局密度有所增加。除PCI Express^®外，板载储存应用可能会尝试布线至高速SAS。PCIe或SAS I/O信号可能因需要在服务器底盘内通过较长的距离而导致出现基于通道长度的损耗。采用PCIe重定时器是其中的一个选择，但随之而来的却是成本和复杂程度的增加。

I-PEX ZenSheild^® 连接器系列可提供出色的 EMC 应对措施。 360 度 EMC 屏蔽设计不仅可以防止来自公座和母座的接触点的电磁噪声辐射，还可以防止来自信号端子的板安装部分（SMT 位置）的电磁噪声辐射。此外，当连接器嵌合并正确接地到电路板时，公座和母座屏蔽层都正确连接，以便在多个点接地。这确保了连接器金属屏蔽层中产生的电流有足够的接地返回路径。

ZenShield^®是I-PEX小型连接器系列的品牌名称，这些小型连接器具有高性能的EMC屏蔽设计。 ZenShield^®为工程师者提供了更大的灵活性来设计线路板，它使得连接器靠近敏感的子系统成为可能，例如发射/接收天线，这是常见的高性能无线通信系统。

每家公司的技术图纸都有所不同。本文将帮助您更好地了解I-PEX连接器产品图纸，以便于您的设计和开发工作，并和生产线进行更高效的沟通。