当社の研究成果が、応用物理学分野の学術誌「Japanese Journal of Applied Physics」に掲載されました。
今回の研究では、このPt/ZrO₂/Si多層構造の界面を原子レベルで詳細に解析し、高品質な結晶成長が実現される仕組みを明らかにしました。その結果、ジルコニアと白金の境界部分に非常に薄い反応層が形成され、この層が異なる材料同士の結晶構造の違いを吸収する「橋渡し」の役割を果たしていることを発見しました。これにより、本来は結晶成長が難しい材料同士でも、高品質な単結晶薄膜を形成できることが分かりました。