[開發中]

我們正運用自身卓越的沉積技術，在矽晶圓上進行 AlN 外延生長。
在開發 6 吋和 8 吋晶圓。詳情請與我們聯繫。 聯繫我們

 

氮化鋁 (AlN) 薄膜的特性

*Uniformity ±0.66% 為特殊產品。 註： 這些資料可能會因改進或其他原因而有所變更。

 

壓電特性d33測量方法

請參閱本公司壓電特性d33測量方法的相關文件。下載d33測量方法

 

氮化鋁 (AlN) 薄膜的結晶度

確認晶格常數已對齊，且 AlN 晶體薄膜的取向性高且品質優良。

註： 這些資料可能會因改進或其他原因而有所變更。

 

返回頁首